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SMT加工阻抗分析仪

来源:龙人计算机研究所 作者:站长 时间:2011-06-23 09:20:01

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SMT加工阻抗分析仪

阻抗分析仪特点:

1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
基本精度±0.08%的高精度测量
适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量


阻抗分析仪参数:

测量模式 LCR(LCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量
测量参数 Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q
测量量程 100mΩ~100MΩ,12档量程(所有参数由Z确定)
显示范围 Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅Z和Y显示绝对值
θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.000000~9.999999)
Q:±(0.00~99999.99),△%:±(0.0000%~999.9999%)


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